有机物鉴别物质的方法 从没见过这么全的材料表面形貌测试分析，材料人必看！(3)

测试原理：

利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离，收集经过质谱分离的二次离子，可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。其离子飞行时间只依赖于他们的质量。

测试仪器：

飞行时间二次离子质谱仪（PHITRIFT V nano）

应用：

（1）定性、定量分析，痕量杂质分析；

（2）并行性分析原子和分子基团，有机物和无机物分析；

（3）检测和分辨所有的元素和同位素；

（4）深度剖面分析。

样品要求：

无特殊要求。

参考标准：

ASTM E1078-2009表面分析中试样制备和安装程序的标准指南；

ASTM E1829-2009先于表面分析的样品处置标准指南。

X射线荧光分析(XRF)

X射线荧光分析是一种用于量化固态和液态样品的元素组成的非破坏性的技术。使用X射线激发样品上的原子，使之放射出带有元素特征的X射线，测量这些X射线的能量及强度。

测试仪器：

X射线荧光光谱仪

应用：

（1）定性、半定量元素分析 ；

（2）测量达到几个微米的金属薄膜的厚度；

（3）金属合金的鉴定。

样品要求：

样品制备的情况对测定误差影响很大，所测样品不能含有水、油和挥发性成分，更不能含有腐蚀性溶剂。

金属样品要注意成份偏析产生的误差；

成分不均匀的金属试样要重熔；

表面不平的样品要打磨抛光；

粉末样品，要研磨至300目-400目，再压成圆片。

激光共聚焦显微镜(CLSM)

激光扫描显微镜，可通过彩色处理系统获得与电子扫描显微镜相媲美的图像，实现非接触式3D测量。激光共聚焦显微镜以1nm 分辨率的良好口啤，能进行远远优于传统的高精度测量。

激光共聚焦显微镜原理图

测试仪器：

激光共聚焦显微镜(CLSM)

应用：

高度、宽度和横截面测量；线条粗糙度测量；体积测量；自动宽度测量；轮廓比较测量；2D + 3D 测量……