有机物鉴别物质的方法 从没见过这么全的材料表面形貌测试分析，材料人必看！

原标题：从没见过这么全的材料表面形貌测试分析，材料人必看！

这是一个拼颜值的时代，不论人还是材料，你说你有超强的性能，体现在表面超光滑，表面孔径分布均一，表面有特殊结构……可是不借助表面形貌分析仪器，材料如何证明自己…….故此，小编在此汇总了材料表面形貌测试方法。

光学显微镜(OM)检查

光学显微镜利用的是凸透镜的放大成像原理，最佳分辨率是0.2 um。因为采用可见光作为光源，光学显微镜对于色彩的识别非常敏感和准确，不仅能观察样品表层组织，而且在表层以下的一定范围内的组织同样也可被观察到。

测试仪器：

光学显微镜（Olympuspmg3）

应用：

（1）外观检查

（2）尺寸测量

样品要求：

无特殊要求。

参考标准：

IPC-6012 刚性印制板的鉴定及性能规范

IPC-A-610 电子组件的可接受性

IPC-A-600 印制板的可接受性

IPC-6012 刚性印制板的鉴定及性能规范

IPC-A-610 电子组件的可接受性

IPC-A-600 印制板的可接受性

扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)

扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）是利用电子和物质的相互作用，采集二次电子、背散射电子等，获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等。

电子束激发样品表面示意图

测试仪器：

电子扫描显微镜/X射线能谱仪

应用：

材料组织形貌观察，如断口显微形貌观察，镀层表面形貌观察， 微米级镀层厚度测量，粉体颗粒表面观察，材料晶粒、晶界观察等；

微区化学成分分析，利用电子束与物质作用时产生的特征X射线，来提供样品化学组成方面的信息，可定性、半定量检测大部分元素（Be4-PU94），可进行表面污染物的分析；

显微组织及超微尺寸材料分析，如钢铁材料中诸如马氏体、回火索氏体、下贝氏体等显微组织的观察分析，纳米材料的分析；

在失效分析中主要用于定位失效点， 初步判断材料成分和异物分析。

样品要求：

非磁性或弱磁性，不易潮解且无挥发性的固态样品，小于8CM*8CM*2CM

参考标准：

JYT 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则；

GB/T 17359-2012微束分析能谱法定量分析。

扫描探针显微镜/原子力显微镜(AFM)

原子力显微镜(AFM)能够表征物体表面三维形貌信息，其横向分辨率可达0.2nm，纵向分辨率可达0.01nm。提供原子或接近原子分辨率的表面图形，是测定埃尺度表面粗糙样本的理想技术。

AFM测试原理图

测试仪器:

原子力显微镜AFM

样品要求：

薄膜样品和表面比较平整的固体可直接测试；

纳米粉末样品需要将其分散到相应的溶剂中，超声分散，晾干后测试。

俄歇电子能谱 (AES, Auger)

俄歇电子能谱(AES、Auger)是一种利用高能电子束为激发源，聚焦在小块表面形貌上的表面分析技术。在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高，高空间分辨率，最小可达到6nm；能探测周期表上He以后的所有元素及元素分布；通过成分变化测量超薄膜厚。

当用来与溅射离子源的结合时,AES能胜任大、小面积的深度剖面。当与聚焦离子束(FIB)一起使用时，它对于截面分析是很有用的。多用于半导体行业。

测试仪器：俄歇电子能谱仪。

俄歇电子能谱仪（AES）

工作原理：

原子内某一内层电子被激发电离从而形成空位；一个较高能级的电子跃迁到该空位上；再接着另一个电子被激发发射，形成无辐射跃迁过程，被发射的电子称为Auger电子；俄歇电子能谱仪通过分析Auger电子的能量和数量，信号转化为元素种类和元素含量。