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广州涂层测厚仪价格 高温漆膜测厚仪(7)

2017-12-31 00:04 网络整理 教案网

80%LO:设置的下界 HI:设置的上界 M:平均值 纵坐标表示测量值 横坐标表示测量值所占的百分比LO |----------------------------注意: 1.在设置限界之后才 能打印出直方图; OU3500便携式镀层测厚仪沧州欧谱七、与PC机通讯(用于OU3500B带通讯)与 PC 机通讯之前,按下图所示, 用本仪器附带的通讯电缆,将仪器与 PC机的串行接口连接好,仪器可将 测量值全部发送到 PC 机。发送数据的 波特率为 9600 , 8 位数据位, 1 位停止 位,无校验位。 (a) 按 (b) 按 后按 据】; (c) 按 键,在直接方式下,发送测 量值、统计值;在批组方式下则发 送该组的所有测量值、统计值; (d) 按两次 键退出。 键,然后按 或 键,选系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据 打印测量值 打印统计值 打印所有值 发送数据择【功能选择】; 键,进入【功能选择】然 或 键,选择【发送数八、影响测量精度的因素8.1 影响因素的有关说明基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢 磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影 响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准; 亦可用待涂覆试件进行校准。

(a) 基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料 成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片 对仪器进行校准。- 19 - OU3500便携式镀层测厚仪沧州欧谱(b) 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量 就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。(c) 边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转 角处进行测量是不可靠的。(d) 曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明 显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。(e) 试件的变形测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上不能测出可靠的 数据。(f) 表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增 大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时, 在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金 属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位 置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层 后,再校对仪器的零点。(g) 磁场周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

(h) 附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因 此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。(i) 探头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要 保持压力恒定。(j) 探头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表 面保持垂直。- 20 - OU3500便携式镀层测厚仪沧州欧谱8.2 使用仪器时应当遵守的规定(a) 基体金属特性对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与 试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属 的电性质相似。(b) 基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用 3.3) 中 的某种方法进行校准。(c) 边缘效应不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。(d) 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。(e) 读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面 积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积 内进行多次测量,表面粗造时更应如此。(f) 表面清洁度测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产 物等,但不要除去任何覆盖层物质。